GJB 360B-2009 方法 211 引出端强度试验,用于评估元件引出端在焊接、装配、运输与使用中承受机械力的能力。它对应 MIL-STD-202 方法 211,按引出端形态分为五种条件:拉力、扁平端弯曲、线状引线弯曲、扭转、转矩。
这项试验的判据看似简单——不断裂、不松动、电性能正常,但它考核的往往是整个元件中的薄弱环节。引出端与本体之间是材料与工艺的双重过渡区:镀层与基体、焊料与镀层、引线与框架,多层界面叠加,任何一层结合不良都会在这里暴露。因此引出端强度不合格,往往比电参数超限更能说明工艺问题。
技术概述
引出端的受力形式决定了它的失效模式。轴向拉力使引线与本体的连接界面承受正应力,失效多为界面脱开或引线颈缩断裂;弯曲使引线根部承受交变应力,失效多为疲劳裂纹;扭转使引线沿轴向承受剪应力,失效多为扭转断裂或镀层剥落;转矩作用于螺纹端子,失效多为螺纹损伤或端子转动。
不同形态的引出端需要不同条件,这不是可选项,而是由几何形状决定。细引线若施加纯拉力,可能在较低力值下就颈缩;扁平端子若施加扭转,会因截面形状而提前屈曲。条件选错的后果是:要么力值偏低测不出问题,要么力值偏高造成非代表性失效。规范按引出端类型指定条件,正是为了避免这种错配。
力值的选择依据是引出端的截面积或线径。同一种材料,截面积越大,能承受的力越大。标准给出一组离散力值(0.5、1、2、3、5、10、20 磅),由详细规范按截面积选定。这个选择不是"越大越严",而是要与实际装配中可能施加的力相匹配:力值过大,会把正常工艺的样品判为不合格;过小,则测不出薄弱环节。
试验后的判定还包括电性能复测。部分失效(如引线内部微裂纹、界面部分脱开)在外观上不可见,但会使接触电阻上升或出现间歇开路。因此规范通常要求试验后测接触电阻或通断,与初始值比对。
检测样品
- 引线元件:轴向与径向引线的电阻、电容、二极管、晶体管。引线材质常见可伐合金、铜包钢、镍铁合金,镀层为锡铅或纯锡。
- 片式元件:端头与本体之间是烧结或粘接界面,受力形式以剪切为主。此类样品多用拉力条件,夹具需夹持端头。
- 连接器与端子:插针、插孔、焊杯、压接筒。形态多样,需按具体结构选择条件。
- 螺柱端子与焊片:带螺纹的接线柱适用转矩条件,焊片适用弯曲或拉力条件。
- 继电器与开关:引出端常与内部簧片相连,拉力会传递到内部结构,试验时需注意是否会引起内部变形。
样品状态需明确:引出端是否经过一次焊接(焊接会改变镀层与热影响区)、引线是否已裁剪至规定长度、是否带绝缘套管。裁剪长度影响夹持位置,进而影响力臂与失效位置。
检测项目
- 初始检测:外观(镀层、裂纹、变形)、电性能(接触电阻、通断、电容量)、几何尺寸(引线直径、端头尺寸)。初始值是判定"试验是否造成变化"的依据。
- 试验施加:按条件施力,控制加载速率与保持时间。速率过快会产生冲击效应,使测得的强度偏低。
- 试验后检测:外观(断裂、松动、变形、镀层剥落)、电性能(与初始值比对)、必要时测密封(引线根部受力可能影响封接)。
- 破坏性分析:对断裂样品做断口分析,判断是韧性断裂、脆性断裂还是界面脱开。断口形貌指向不同的工艺问题。
试验方法与条件
条件 A 拉力:适用于多数引出端。力值从 0.5、1、2、3、5、10、20 磅中选取,由规范按截面积确定。力应沿引出端轴向施加,逐渐加载后保持 5 至 10s。施加方向偏离轴向会产生弯矩,使失效提前。
条件 B 扁平端弯曲:适用于可用手指弯曲的扁平带状或片状引出端。弯曲循环从正常位置开始,先向一侧弯 45°,再向反方向弯 90° 至另一侧的 45° 位置,然后回到正常位置,构成一个完整循环,约需 9s。循环数为 2 次或 5 次,按规范选取。
条件 C 线状引线弯曲:适用于延展性有限的实心引线,如镍合金引线、密封元件的引线。试验前在距自由端 1/4 英寸内悬挂载荷,载荷取拉力值的一半(0.25、0.5、1、5、10 磅中与一半相接近的数值)。弯曲时缓慢倾斜元件本体,使引线弯 90° 后回到正常位置,弯曲起点距本体 3/32±1/32 英寸。共做 3 次弯曲,每次约 3s。
条件 D 扭转:适用于延展性实心引线,尤其是绕接用引线。试验前在距本体 1/4 英寸处将引线弯 90°,弯曲半径约 1/32 英寸;然后在距弯点 3/64±1/64 英寸处夹持自由端,绕弯折后引线的原轴交替旋转 360°,共 3 转(合计 1080°),每转约 5s。
条件 E 转矩:适用于螺纹或其他刚性端子。转矩值按螺纹尺寸由规范指定,沿拧紧方向施加,保持 5 至 15s。方向错误会松开螺纹,测不出真实的抗扭能力。
- 加载速率:除条件 A 的"逐渐加载"外,其余条件对时间有明确规定。速率控制靠人工难以一致,建议用机械装置或带速度控制的推拉力计。
检测仪器
- 推拉力计:量程覆盖 0.5 至 20 磅,精度 ±2%,具备峰值保持功能。夹具需按引出端形态配置:钩形、夹形、缠绕形。
- 弯曲试验装置:可控制弯曲角度、速度、循环数。条件 B 与 C 的角度与速度要求不同,需分别配置或可调。
- 扭转装置:可控制旋转角度与速度,具备角度显示。手动扭转的一致性差,建议机械化。
- 转矩扳手:量程覆盖规范要求,精度 ±5%,可换批头。
- 测量设备:毫欧计、通断测试仪、体视显微镜(观察裂纹与镀层剥落)。
应用领域
- 军用元器件的鉴定与质量一致性检验:引出端强度是常规项目,尤其对引线元件与连接器。
- 装配工艺验证:自动插件、弯脚成形、绕接等工艺会对引出端施加力,试验可评估工艺参数是否超出元件的承受能力。
- 运输与包装评估:包装不当会使引出端在运输中弯折,试验可确定包装的防护要求。
- 工艺变更验证:引线材料、焊接工艺、镀层厚度变更后,用引出端强度对比,判断是否引入薄弱点。
- 失效复现:整机出现批次性引线断裂或接触不良时,用该试验复现,判断是元件强度不足还是装配应力过大。
常见问题
问题一:五种条件怎么选?
按引出端形态选,不是按严酷度选。可手指弯曲的扁平端用条件 B;延展性有限的实心引线用条件 C;绕接用引线用条件 D;螺纹端子用条件 E;其余多数用条件 A。选错的典型后果是:对细引线施加条件 A 的大力值,引线在夹持处颈缩断裂,测的是夹具而非产品。
问题二:力值越大越严吗?
不是。力值应与实际装配和使用中可能施加的力匹配。过大,会把正常工艺的样品判为不合格,也会造成非代表性失效(如夹持处断裂);过小,测不出薄弱环节。规范按截面积给力值,是因为截面积决定承载能力,而不是"越严越好"。若客户要求加严,应说明依据与可能的影响。
问题三:加载速率为什么重要?
因为材料对应变速率敏感。快速加载会产生冲击效应,测得的强度偏低;缓慢加载使应力充分传递,测得更接近静态强度。条件 A 要求"逐渐加载",条件 B 至 D 对每次弯曲或扭转的时间有明确规定,都是为了控制速率。手工操作时速率难以一致,这也是不同实验室数据差异的常见来源。
问题四:试验后外观正常,为什么还要测电性能?
因为部分失效不可见。引线内部可能出现微裂纹,界面可能部分脱开,镀层可能在与基体之间起层。这些变化在外观上无异常,但会使接触电阻上升或出现间歇开路。测电性能是把"看不见的损伤"变成可判定的数据。规范通常要求与初始值比对,变化率超过规定即判不合格。
问题五:条件 C 的悬挂载荷为什么要取拉力值的一半?
因为弯曲时引线同时承受弯曲应力与拉伸应力,悬挂载荷提供拉伸分量,使弯曲过程更接近实际受力状态。取一半是折中:过大,拉伸分量主导,弯曲效果被掩盖;过小,引线在弯曲中可能失稳。这个比例在标准中有明确规定,不应自行调整。
问题六:条件 B 的一个循环为什么要 9s?
三个方向各 3s:向一侧弯 45° 用 3s,向反方向弯 90° 用 3s,回到正常位置用 3s。这个时间设定使弯曲速率控制在较低水平,避免动态效应。速率过快,材料来不及塑性变形,会在弯曲处产生裂纹,测得的寿命偏低。用机械装置控制时间,比手工操作更可靠。
问题七:引出端强度不合格,能通过改装配工艺解决吗?
部分可以。若失效表现为弯曲裂纹,且实际装配中的弯曲半径小于试验条件,改善装配(增大弯曲半径、增加支撑)可缓解;若失效表现为拉力下的界面脱开或引线断裂,属于元件本身的强度不足,需从材料与焊接工艺入手。判断依据是断口位置:断在引线中部,多为材料问题;断在根部或界面,多为工艺问题。
结果分析
引出端强度的结果判读,核心是断口位置与形貌。
断在引线中部,多为材料本身的强度不足或镀层脆化。断面呈韧窝状说明延展性尚可,属过载;呈解理或沿晶形貌说明材料脆化,可能与镀层扩散(如锡向铜中扩散形成脆性相)有关。
断在根部或界面,多为工艺问题。根部是焊接热影响区,晶粒粗化会降低强度;界面是镀层与基体的结合面,前处理不良或镀层应力过大会导致脱开。这类失效的整改方向是焊接参数与前处理工艺,而非更换材料。
镀层剥落即使未断裂也应记录。剥落说明镀层结合力不足,在后续焊接或使用中会扩展为开路。剥落位置(弯折处、夹持处)指向不同的成因:弯折处多为镀层脆性大,夹持处多为夹具损伤。
报告建议给出:条件代号、力值或角度、加载速率、保持时间、循环数、夹持位置、试验后电性能、失效位置与断口形貌。其中夹持位置是复现的关键,夹持点偏移几毫米,失效位置就会改变,结论也随之不同。
上一篇:没有啦!
下一篇:没有啦!
- GJB 899A可靠性验收试验:批量产品可靠性验收测试项目介绍
- GJB 899A可靠性鉴定试验:产品平均故障间隔时间验证项目说明
- GJB 899A-2009可靠性鉴定与验收试验:MTBF验证项目介绍
- GJB 1032随机振动筛选:电子产品随机振动应力筛选项目介绍
- GJB 1032温度循环筛选:电子产品温度循环应力筛选项目说明
- GJB 360B可焊性试验:电子元器件可焊性能测试项目说明
- GJB 360B气密性试验:电子元器件密封性验证项目介绍
- GJB 360B加速度试验:电子元器件恒定加速度环境测试项目
- GJB 360B冲击试验:电子元器件机械冲击耐受性验证项目
- GJB 360B振动试验:电子元器件振动环境适应性测试项目


