失效分析
2026-10-31
现代高分子制品与复合材料构件的失效往往不是单一因素所致,而是材料、工艺、结构与环境多因素耦合的结果,单一技术手段难以完整还原失效过程。
2026-10-31
高分子材料(塑料、橡胶、复合材料)在热、氧、光、湿气与机械应力长期作用下性能逐渐退化,最终丧失使用功能。老化寿命评估旨在回答两个问题:一是材料当前的老化程度处于何种阶段、是否仍可安全使用;
2026-10-31
塑料焊接(超声波焊接、振动摩擦焊接、热板焊接、激光焊接、热熔对接等)通过局部加热使界面塑料熔融并在压力下融合实现连接,广泛用于电子电器外壳、汽车部件、管路系统与医疗器械的装配。
2026-10-31
胶接技术以应力分布均匀、可连接异种材料、密封与绝缘一体化等优势广泛应用于结构连接与装配领域。胶接接头的失效模式可分为三类:界面破坏(胶层与被粘物表面分离,粘接最弱)、内聚破坏(胶层本体撕裂,粘接良好)与被粘物破坏(基材断
2026-10-31
焊点是电子组装中连接元器件与印制板的关键界面,它同时承担电气导通、热量传导与机械固定的三重功能。一个合格的焊点应具备良好的润湿、适当的焊料量、连续的金属间化合物层以及合理的轮廓形态。
2026-10-31
X 射线透视利用射线穿透物质时的衰减差异成像。当 X 射线穿过样品时,不同密度、不同厚度、不同原子序数的区域对射线的吸收程度不同,透射后的射线强度随之变化,探测器将这些差异转换为灰度图像,从而在不破坏样品的前提下呈现内部
2026-10-31
开封与去层是失效分析中由无损走向有损的关键步骤。开封指去除器件封装材料,使芯片、键合线、焊点、内部互连暴露出来;去层指在芯片表面逐层去除钝化层、金属层与层间介质,使下层结构或缺陷显现。
2026-10-31
失效模式是对现象的描述,失效机理是对原因的解释。同样是"开路",可能是键合线熔断、焊点疲劳开裂、铜箔腐蚀断开或机械划伤切断;同样是"短路",可能是介质击穿、金属迁移、锡须桥接或异物搭接。


